在功率半导体器件向小型化、集成化、大功率、低功耗方向发展的同时,半导体器件的特性测试对测试系统也提出了越来越高的要求,需要测试设备在大功率、低噪声、高精度和高速采集等方面提升性能,使之具备更高的电压、电流、精度、灵敏度等测试能力,能够支持测量各种功率范围的半导体器件。与传统器件检测相比,第三代半导体材料器件需要精度更高、灵敏度更高的测试产品。博电科技20多年深耕电气检测产品研发,持续研发并掌握相关核心技术,持续推进第三代半导体产业试验检测技术和设备研发制造。
博电科技打破国外技术垄断,成为国内唯一一家自主研发功率半导体检测设备的厂商,测试对象包括IGBT单芯片与IGBT模块测试,测试内容涵盖静态特性检测、动态特性检测、功率循环检测、高压局放检测、功率分析检测等方面,测试最高电压5kV、测试电流最大5000A,可满足市场上全部型号IGBT的测试,可广泛应用于功率半导体的研发、生产、应用的各个环节,助推中国功率半导体产业发展。